塵埃粒子計數器可用來監(jiān)控無塵顆粒，無塵室制造，敏感生產和HVAC系統(tǒng)。

 

電子制造需要嚴格的程序和環(huán)境控制，尤其是在過程需要有毒，易燃，腐蝕性或反應性材料的情況下。同時，過程和人員會在整個生產過程中引入并產生顆粒。當組件與灰塵，空氣中的微生物，氣溶膠顆粒和微量水分相互作用時，產量會急劇下降。粒子計數器可確保無塵室的機械和設計功能（例如空氣過濾器和通孔）在生產過程中和靜止時均有效運行。機載粒子計數器在潔凈室操作中對污染物的來源和膚色進行監(jiān)視，分類和診斷中起著至關重要的作用。半導體，平板顯示器和硬盤存儲單元的制造商早就認識到空氣質量改善與最終產量增加之間的關系。具體而言，控制空氣中的顆粒對獲得潔凈室，區(qū)域和空間的ISO級認證至關重要。由于工作空間隨生產需求而變化，因此使用本地監(jiān)控設備對于測量和保持所需的清潔度至關重要。

 

根據目標顆粒的大小，不同的儀器可提供不同級別的功能。粒子計數器對粒子的敏感性程度因應用而異，因此會檢測和計數粒子的設計功能有所不同。

 

 

 

凝結粒子計數器（CPC），有時也稱為冷凝核計數器（CNC），用于測量光度計或OPC無法檢測到的超細顆粒濃度。濾芯插入物可容納高純度液體，通常是試劑級的異丙醇或丁醇，可用于進入的空氣樣品。當顆粒和液體相互作用時，納米顆粒會膨脹到大約10-12微米的大小，因此更易于檢測。CPC粒子計數器通過隨著溫度的變化對其飽和水平進行嚴格調節(jié)，可以達到理想的飽和值，通常為100-200％。飽和度越均勻，CPC可以更準確地檢測到通過粒子散射的光的各個方差脈沖。不均勻和/或非圓形的粒子會導致誤導測試結果，突顯了CPC優(yōu)于標準光學粒子計數器的情況。標準光學粒子計數器缺乏在大約50nm的閾值下記錄粒子的靈敏度。冷凝粒子計數器會根據型號對所有小于1 nm的粒子進行計數。另一方面，CPC無法提供有關粒子大小的數據，只能對其進行計數。

 

 

1. 呼吸器適合性測試

2. 過濾器測試

3. 室內空氣質量研究

4. 機械過濾系統(tǒng)評估

5. 點源監(jiān)控

6. 驗證工程或過程控制

 

 

 

光散射塵埃粒子計數器是用于潔凈室空氣質量監(jiān)測和分類的最常見設計之一。也稱為光學粒子計數器，用于測量粒子數量濃度和尺寸范圍，以驗證機械過濾系統(tǒng)并識別污染源。當粒子穿過光束時，光會散射。光學粒子計數器不會直接指示粒子的大小。相反，它們測量散射和懸浮在空氣中的光的直徑。粒徑，是在光子檢測器將散射光的大小和頻率轉換為電信號之后進行測量的。有用的測量和數據需要高質量的光學設計和具有精確角度的高功率激光器。CW-RPC系列遠程激光塵埃粒子計數器是智能多點監(jiān)控系統(tǒng)的終端設備，通過RJ45網絡接口、 WiFi、485（moudbus）等，將數據送給PC終端，為用戶提供實時準確的車間微粒數量和凈化等級。

 

該粒子計數器按照國際標準IS014644-1, GMP和日本工業(yè)標準（JIS）要求標定，專業(yè)應用于電子行業(yè)、制藥車間、食品、藥品車間、半導體、光學或精密機械加工車間等潔凈環(huán)境；用戶可根據需要增加或減少控制終端，可實現7*24實時遠程自動監(jiān)測，有助于企業(yè)提升自動化、精細化管理。隨著工業(yè)4.0時代的到來，各工廠車間急需自動化'精細化管理，賽納威 在線式遠程激光塵埃粒子計數器剛好滿足和適應這種需求：只需一次安裝即可7*24小時 持續(xù)監(jiān)測車間微粒數量和動態(tài)變化過程，大大提高了企業(yè)運營效率和降低管理成本；憑 借明顯的技術優(yōu)勢' 穩(wěn)定的質量以及優(yōu)質的服務，我們的檢測儀器已經得到廣泛的市場 應用和國內權威第三方檢測的充分認可； 賽納威嚴格遵循“求實創(chuàng)新、用戶至上”的企業(yè)宗旨，聚焦和滿足客戶的需求，提供優(yōu)質 的產品及售后服務，努力為客戶創(chuàng)造長期價值。

 

 

1. 測試空氣過濾器泄漏

2. 抽查運行期間的實時清潔度

3. 清除污染

4. 測試過濾器泄漏和效率

5. 創(chuàng)建標準化的測試例程以進行長期監(jiān)控和數據記錄
 

 

 

對于電子產品制造商而言，法規(guī)并不需要進行過程和環(huán)境監(jiān)控，而是作為降低污染物危害產量和質量控制風險的一種方法。過程監(jiān)控確定房間執(zhí)行任務的準備情況。制藥商面臨著更加嚴格的環(huán)境和過程監(jiān)控準則。通常，手持式顆粒計數設備無法用于測試許多制藥潔凈室設施所需的ISO 5級規(guī)范。集中式粒子計數器的專用設備（稱為“遠程”空氣粒子計數器）連接到墻壁，設備或固定裝置，以進行長期的專用監(jiān)控。

 

 

對于每種環(huán)境，粒子檢測的要求隨應用程序而變化。通常，粒度是由不同的電子制造商監(jiān)控的：

 

1. 半導體制造：0.1 um以下

2. 硬盤制造商：0.2 um至0.3 um

3. 平板顯示器制造：0.3 um和1.0 um

 

與24小時數據收集的全廠監(jiān)控系統(tǒng)相比，對日常主動評估的無塵室進行抽查的設施需要不同的工具。通常，手持式粒子計數器在較小的局部區(qū)域提供抽樣檢查。對于大規(guī)模的專用監(jiān)控，或潔凈室認證測試，臺式和專用遠程系統(tǒng)提供了理想的功能。